ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ НА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНАХ


Главная » Статьи » ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ НА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНАХ

Рассмотрено подключение измерителя параметров полупроводниковых приборов ИППП-1 к зондовой установке ЭМ–6040, обеспечивающее регистрацию неискаженных вольтамперных характеристик (ВАХ) высокочастотных биполярных транзисторов.

Скачать ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ НА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНАХ



Версия для печатиВерсия для печати